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超聲掃描

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設(shè)備:超聲波掃描顯微鏡SONIX ECHO-LS

廠商:SONIX

用途:無損檢測電子元器件、金屬基板的分層、裂紋等缺陷(裂紋、分層、空洞等);通過圖像對比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。

測試標(biāo)準(zhǔn):《IPC/JEDEC J-STD-035 非氣密性封裝元件的聲學(xué)顯微鏡檢查方法》、 IPC/JEDEC J-STD-020 非密閉式固態(tài)表面安裝組件的濕度/回焊敏感性分類》、《IPC/JEDEC J-STF-020 塑料集成電路SMD的潮濕/回流敏感性分類》

技術(shù)指標(biāo):

l  頻率范圍:(1500MHz

l  空間分辨率: 0.1μm

l  掃描面積達(dá)到:0.25300mm

l  各種掃描模式:

l  超聲波傳輸時(shí)間測量(A掃描)

l  縱向截面成像(B掃描)、

l  X/Y二維成像(C、D、GX掃描)

l  三維掃描與成像。

l  T-掃描方式:檢測透射信號(hào)


  • 地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓

  • 電話:0769-33882377

  • 郵箱:nfjc@cwbg-nf.com

  • 傳真:0769-23078230

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